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Micro-Epsilon ottimizza la misurazione dei nastri per la produzione di superconduttori
La nuova tecnologia ottica di misura di precisione consente il monitoraggio in tempo reale di nastri superconduttori sensibili durante il processo di taglio.
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La produzione di nastri superconduttori per applicazioni avanzate nella trasmissione di energia richiede la massima precisione, elevata stabilità di processo e tecnologie di misura estremamente delicate sui materiali. Micro-Epsilon risponde a queste esigenze con l’optoCONTROL 2700-40, un micrometro ottico di precisione progettato per la misurazione senza contatto e in tempo reale di nastri metallici sensibili direttamente all’interno del processo produttivo.
La soluzione è stata sviluppata specificamente per applicazioni che utilizzano nastri stretti in acciaio inox rivestiti con leghe di nichel e delicati strati PVD. Nei processi tipici di produzione, nastri larghi 12 mm vengono suddivisi in diversi segmenti stretti da circa 3 o 4 mm, separati da spazi di soli 0,5 mm.
Misurazione senza contatto per materiali rivestiti sensibili
Poiché i materiali lavorati presentano delicati rivestimenti PVD, la tecnologia di misurazione senza contatto rappresenta un vantaggio fondamentale. Vengono completamente eliminate sollecitazioni meccaniche, graffi e deformazioni sugli strati sensibili di nichel e rivestimento, rendendo la soluzione particolarmente adatta ai processi di produzione di superconduttori ad alta precisione.
Con l’optoCONTROL 2700-40, il nastro viene misurato direttamente dopo il processo di taglio mentre continua a muoversi lungo la linea produttiva. L’intero nastro da 12 mm viene acquisito all’interno del campo di misura del micrometro ottico.
Misurazione precisa di segmenti e spazi in tempo reale
Grazie alla funzione integrata “multi-segmento”, il sistema è in grado di misurare con precisione sia la larghezza totale del nastro sia la larghezza dei singoli segmenti. Anche gli spazi estremamente ridotti di appena 0,5 mm tra i segmenti vengono rilevati e monitorati in modo continuo e affidabile.
I valori misurati vengono trasmessi in tempo reale al sistema di controllo macchina e possono essere utilizzati immediatamente per la regolazione del processo. Questo consente di rilevare rapidamente eventuali deviazioni e correggere automaticamente i parametri produttivi.
Risoluzione nanometrica per produzioni ultraprecise
I micrometri ottici di precisione Micro-Epsilon offrono una risoluzione di 10 nanometri e una ripetibilità ≤ 0,1 µm. Ciò consente di rilevare con affidabilità anche segmenti estremamente stretti e minime variazioni geometriche.
Con una frequenza di misura fino a 5 kHz, i sensori permettono inoltre il monitoraggio continuo di processi produttivi ad alta velocità. Secondo Micro-Epsilon, la misurazione continua in tempo reale contribuisce a ridurre gli scarti e ad aumentare significativamente l’affidabilità del processo nelle applicazioni più esigenti di taglio e rivestimento.
Integrazione flessibile nei sistemi industriali
L’optoCONTROL 2700-40 è stato sviluppato per l’integrazione in moderni ambienti industriali e supporta diverse interfacce di comunicazione industriale. Tra queste figurano EtherCAT, PROFINET, Ethernet/IP e segnali analogici. La soluzione può quindi essere integrata facilmente in impianti esistenti di taglio, rivestimento e produzione.
Crescono le esigenze di misura di precisione nella produzione di superconduttori
Le esigenze nella produzione di materiali superconduttori continuano ad aumentare, soprattutto nelle applicazioni legate alla trasmissione di energia, alla ricerca scientifica, alla tecnologia medicale e ai sistemi elettrici ad alte prestazioni. Poiché i nastri superconduttori utilizzano strutture materiali altamente sensibili e rivestimenti complessi, i sistemi ottici di misura senza contatto assumono un ruolo sempre più importante.
I produttori adottano sempre più frequentemente tecnologie di misura ottica inline per monitorare in tempo reale qualità produttiva, utilizzo del materiale e stabilità del processo.
Contesto aggiuntivo: metrologia industriale e benchmarking competitivo non inclusi nell’annuncio originale
Nel mercato della metrologia industriale ad alta precisione, Micro-Epsilon compete con aziende come Keyence, Sick, Cognex, Omron e Panasonic Industry. I principali fattori competitivi includono precisione di misura, velocità, capacità di integrazione, robustezza e possibilità di effettuare controlli qualità senza contatto su materiali sensibili.
La domanda di sistemi inline di misura ad alta risoluzione continua a crescere in particolare nei settori legati alla produzione di batterie, semiconduttori, rivestimenti di precisione e tecnologie superconduttrici.
La soluzione presentata da Micro-Epsilon si distingue principalmente per la combinazione di risoluzione nanometrica, controllo di processo in tempo reale, misurazione senza contatto e integrazione industriale flessibile per ambienti produttivi ultraprecisi.
Modificato da Maria Brueva, editor di Induportals – adattato da IA.
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