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Omron lancia due nuovi relè MOSFET

Presentati da Omron un relè MOSFET a elevata rigidità dielettrica e alta temperatura di esercizio e un relè MOSFET miniaturizzato ultra-reattivo.

Omron lancia due nuovi relè MOSFET
OMRON ha introdotto un relè MOSFET a elevata rigidità dielettrica e alta temperatura di esercizio per contatori intelligenti e un relè MOSFET miniaturizzato ultra- reattivo per sistemi di test

Omron Electronic Components Europe ha ampliato la sua vasta gamma di relè MOSFET con due nuovi dispositivi. I nuovi relè Omron G3VM-401 e G3VM-601 offrono un'elevata rigidità dielettrica e alte temperature di esercizio, caratteristiche ideali per le applicazioni legate ai contatori elettrici e al controllo industriale. Il nuovo dispositivo G3VM-41UR è un relè altamente reattivo in packaging VSON ultra-compatto destinato ad applicazioni di test e misura (in particolare ATE) grazie alle sue caratteristiche di bassa resistenza di conduzione e bassa capacità di uscita.

Per i progettisti di contatori elettrici le temperature di esercizio possono rappresentare una sfida importante poiché queste unità devono essere sigillate per evitare manomissioni. I nuovi dispositivi Omron G3VM-401 e G3VM-601 risolvono questo problema in quanto possono resistere a temperature ambiente fino a 110°C. Inoltre, offrono una rigidità dielettrica che raggiunge i 5.000V rms AC.

I dispositivi sono offerti in versione a montaggio sia superficiale sia passante, con contatti SPST-NO. Estremamente efficienti dal punto di vista energetico, garantiscono una corrente di trigger di soli 2mA. La versione G3VM-401 può gestire fino a 120mA a 400V mentre la versione G3VM-601 può gestire fino a 90mA a 600V.

Il nuovo G3VM-41UR presenta un valore CxR di soli 10pF*Ω e può gestire correnti fino a 0,25A a 40V: per un dispositivo di queste dimensioni si tratta di valori eccezionali. Esso rappresenta un'eccellente alternativa compatta ai dispositivi in package SOP4 e ai relè reed. Una resistenza di conduzione di soli 2ohm e una capacità di uscita di 5pF lo rendono ideale per la commutazione dei segnali di test nei sistemi ATE, nonché in altre applicazioni relative ad apparecchiature di test, misura e comunicazione.

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